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1 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第5节 栅-源截止电压
2 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第6节 栅-源阈值电压
3 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第2节 栅极截止电流/栅极泄漏电流
4 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第15节 漏-源通态电阻
5 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第4节 漏极截止电流
6 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第3节 漏极电流
7 半导体器件 机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） GB/T 4937.4-2012 强加速稳态湿热试验
8 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy 恒定湿热主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.50-2012 恒定湿热
9 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管GB/T 4586-1994 第IV章 测试方法 6 栅-源阈值电压
10 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管GB/T 4586-1994 第IV章 测试方法 2 栅极泄漏电流
11 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997方法 1051 温度循环
12 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管GB/T 4586-1994 第IV章 测试方法 15 漏-源通态电阻
13 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管GB/T 4586-1994 第IV章 测试方法 3 漏极电流
14 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管GB/T 4586-1994 第IV章 测试方法 18 热阻
15 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997方法 1027 稳态工作寿命
