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检测标准:
1 《电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法》 GB/T 2423.21-2008 低气压试验
2 《半导体器件机械和气候试验方法》第2部分:低气压GB/T 4937.2-2006 / 低气压试验
3 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 方法1001 低气压试验
4 《电子及电气元件试验方法》 GJB360A-1996 方法105 低气压试验
5 《电子及电气元件试验方法》 GJB360B-2009 方法105 低气压试验
6 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548A-1996 方法1001 低气压试验
7 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 方法1001 低气压试验
8 《过载传感器通用规范》 GJB5440-20053.5.8 低气压试验
9 《电工电子产品环境试验》 GB/T2423.1-2008 低温试验
10 《过载传感器通用规范》 GJB5440-20053.5.2 低温试验
11 《电工电子产品环境试验》 GB/T2423.5-2019 冲击
12 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 方法2016 冲击
13 《晶体振荡器通用规范》 GJB1648A-2011 3.6.40 冲击
14 《电子及电气元件试验方法》 GJB360A-1996 方法207、方法213 冲击
15 《电子及电气元件试验方法》 GJB360B-1996 方法207、方法213 冲击