半导体集成电路模拟开关 关断时间检测 百检网

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2 半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T14028-2018 5.6 导通态漏电流IDS(on)

3 半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T14028-2018 5.2 导通电阻Ron

4 半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T14028-2018 5.3 导通电阻路差△Ron

5 半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T14028-2018 5.5 截止态源极漏电流IS(off)

6 半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T14028-2018 5.5 截止态源极漏电流IS(off)

7 半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T14028-2018 5.4 截止态漏极漏电流ID(off)

8 半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T14028-2018 5.4 截止态漏极漏电流ID(off)

9 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000 5.10 输入低电平电流IIL

10 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000 5.10 输入低电平电流IIL

11 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000 5.9 输入高电平电流IIH

12 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000 5.9 输入高电平电流IIH

13 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理GB/T14028-2018 静态工作电源电流

14 半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T14028-2018 静态工作电源电流

15 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理GB/T14028-2018/ 5.4 双向开关截止电流