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1 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 1003/2.3 X射线检查
2 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 1003/2.8 内部目检
3 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 1003/2.11 剪切强度
4 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 1003/2.2 外部目检
5 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 1003/2.6 密封
6 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 1003/2.10 扫描电子显微镜（SEM）检查
7 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 1003/2.5 粒子碰撞噪声检测（PIND）
8 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 1003/2.9 键合强度
9 军用电子元器件破坏性物理分析方法 扫描电子显微镜（SEM）检查
